Hiện tượng LID của tấm pin năng lượng mặt trời là gì ?
Nguồn ảnh: pv-tech.org
LID (Light Induced Degradation)
Tạm dịch là suy giảm cảm ứng ánh sáng là sự mất hiệu suất của các tấm pin silicon. Hiện tượng xuất hiện những giờ đầu tiên khi tấm pin tiếp xúc với ánh nắng mặt trời. Ảnh hưởng đến hiệu suất được cung cấp bởi nhà sản xuất tấm pin năng lượng mặt trời.
Hình 2. Hình ảnh chụp của tấm trước khi đưa ra hoạt động (trái), sau 20 giờ chiếu sáng với áp suất AM1.5 (giữa) và những cell đã bị ảnh hưởng LID (phải). Nguồn ảnh: pv-tech.org
LID gây ra bởi oxy có trong silicon nóng chảy trong quá trình Czochralski để thu được tinh thể silicon. Do hiệu ứng tiếp xúc với ánh sáng, các phân tử Oxy tích điện dương này có thể khuếch tán qua mạng silicon và tạo ra các phức chất với các chất nhận là Bo. Các phức hợp Bo-oxy tạo ra các mức năng lượng riêng của chúng trong mạng silicon và có thể hấp thụ được các electron và lỗ trống. Do đó sẽ làm suy giảm hiệu suất của tấm pin vì electron và lỗ trống là 2 nhân tố quyết định hiệu ứng quang điện xảy ra khi tấm pin nhận ánh sáng mặt trời.
Hình 3. Mô phỏng điện về hiệu suất tấm pin khi 12/60 cell có dâu hiệu LID. Trái: Đường đặc tuyến điện áp – dòng điện của tấm pin trước và sau LID. Phải: Thay đổi về đặc tính điện của cell và tấm pin sau LID. Nguồn ảnh: pv-tech.org
